日本千叶国际电子测试、检测、测量与分析展览会
ELECTROTEST JAPAN - CHIBA
| 展会时间 | 2026年9月9日 至 2026年9月11日 |
|---|---|
| 举办国家 | 日本 |
| 举办城市 | 千叶 |
| 展馆名称 | Makuhari Messe - Nippon Convention Center |
| 所属行业 | 电子电气 |
展品范围
ELECTROTEST JAPAN - CHIBA的展品范围涵盖了电子制造和研发过程中所需的各类测试、检测、测量和分析设备与技术，旨在为电子行业的全产业链提供一站式解决方案。具体展品包括但不限于： 1. **半导体测试与检测设备：** 晶圆测试仪、封装测试仪、探针台、ATE（自动测试设备）、失效分析设备、可靠性测试系统、缺陷检测设备、IC测试插座、老化测试系统、ESD测试设备等，确保半导体产品的质量和性能。 2. **电路板测试与检测：** 裸板测试仪、在线测试仪（ICT）、功能测试仪（FCT）、飞针测试仪、X射线检测设备（AOI/AXI）、光学检测设备（AOI）、炉前/炉后检测系统、BGA检测设备、连接器测试设备等，保障PCB和PCBA的生产质量。 3. **电子元器件测试：** 电阻、电容、电感测试仪、二极管、三极管、MOSFET测试仪、传感器测试设备、继电器测试设备、连接器测试设备、开关测试设备、电源模块测试系统等，覆盖各类电子元器件的性能评估。 4. **通用测量仪器：** 示波器、频谱分析仪、逻辑分析仪、信号发生器、万用表、电源、频率计、LCR测试仪、网络分析仪、功率计、数据采集器、环境试验箱（高低温、湿热、盐雾）等，满足研发和生产过程中的基础测量需求。 5. **EMC/EMI测试：** 电磁兼容性测试系统、电磁干扰测试系统、射频测试设备、屏蔽室、天线、频谱分析仪等，确保电子产品符合电磁兼容性标准。 6. **光学检测与测量：** 显微镜、光谱仪、图像处理系统、3D测量系统、尺寸测量设备、色彩分析仪等，用于精密部件的视觉检测和尺寸测量。 7. **材料分析与可靠性评估：** X射线荧光光谱仪（XRF）、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、红外光谱仪、热分析仪、振动冲击试验系统、跌落试验机、寿命测试设备等，用于材料成分分析和产品可靠性验证。 8. **软件与自动化解决方案：** 测试自动化软件、数据分析软件、测试管理系统（TMS）、MES系统、工业机器人、自动化测试平台、机器视觉系统等，提升测试效率和数据管理能力。 9. **智能制造与物联网测试：** 工业物联网（IIoT）测试解决方案、传感器网络测试、无线通信测试、大数据分析与预测性维护系统等，助力智能工厂和工业4.0的发展。 10. **其他相关产品与服务：** 校准服务、测试夹具、探头、连接线缆、测试配件、技术咨询、行业标准与认证服务等，为测试测量行业提供全面的支持。
展会简介
ELECTROTEST JAPAN - CHIBA，即日本千叶国际电子测试、检测、测量与分析展览会，是亚洲领先的专注于电子制造和研发领域测试、检测、测量和分析技术的专业展览会。该展会每年在日本千叶幕张国际展览中心（Makuhari Messe - Nippon Convention Center）盛大举行，汇聚了全球顶尖的电子行业专家、制造商、供应商和采购商。展会历史悠久，多年来已发展成为电子测试测量领域最具影响力的盛会之一，为行业内的技术交流、产品展示和商业合作提供了绝佳平台。其规模宏大，每年吸引数万名专业观众和数百家参展企业，展示最新的技术成果和解决方案。展会不仅是了解行业前沿动态的风向标，更是推动电子产业创新与发展的重要引擎。主要参展群体包括电子元器件制造商、半导体企业、汽车电子供应商、航空航天技术公司、医疗设备生产商、通信设备制造商以及各类研发机构和科研院所。通过参与ELECTROTEST JAPAN，参展商能够有效拓展市场，建立新的业务联系，并深入了解客户需求，从而提升品牌知名度和市场竞争力。同时，观众也能在此寻找到最先进的测试设备、检测仪器和测量解决方案，以应对日益复杂的电子产品设计和制造挑战。展会期间还会举办一系列高水平的研讨会和技术论坛，邀请行业领袖和专家分享前瞻性见解，共同探讨电子测试测量领域的未来趋势。